OptiSurf^® PRO AR

测试 AR 波导堆栈和平面光学元件的几何特性

OptiSurf® PRO AR 是一种测量设备，用于确定单个波导和其他平面光学元件以及波导堆栈的几何特性。堆栈波导由两个或三个元件组成，各个元件彼此间的相对倾斜可能会导致不必要的色差。® PRO AR 可准确测量这一倾斜度。这个过程中关注的焦点是波导的单个元件彼此间的相对倾斜度或者相对于某个机械基准值的倾斜度。另一个重要应用是测量波导面积上的总厚度变化 (TTV) ，因为厚度变化过大会大幅降低生成图像的对比度 (MTF)

无论是在波导堆栈或光学元件的制造、研发还是质量控制中，该系统都能以亚微米的精度测量单个中心厚度和堆栈中组件之间的空气间隙。它还可以直接在软件中分析倾斜度、表面形状和弯曲度。